표준물질 상세정보

Hf0.5Zr0.5O2 박막 CRM (4.0 nm)

Hf0.5Zr0.5O2 thin film CRM (4.0 nm)

표준물질코드
10304032-001
생산·공급기관
한국표준과학연구원
재고수량
43
판매가(VAT포함)
748,000원
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형태/규격
10 mm x 10 mm x 0.6 mm 칩
서비스유형
재고형
표준물질 구분
인증표준물질
용도
분광타원계측법(SE), 투과전자현미경(TEM), X선 반사측정(XRR), X선 광전자 분광법(XPS) 및 기타 방법에 의한 Hf0.5Zr0.5O2 박막 두께 측정을 위한 분석 기기의 교정에 사용한다.
인증값
3.93 ± 0.26 nm [확장불확도, 95% 신뢰 수준, k=2.01]
측정불확도
인증방법
Hf0.5Zr0.5O2 박막 두께를 XPS와 TEM을 이용하여 상호보정법에 의해 인증하였다.