Hf0.8Si0.2O2박막 두께 분석용 CRM (4.4 nm)
Hf0.8Si0.2O2?thin film CRM (4.4 nm)
- 표준물질코드
- KRISS-CRM103-04-038
- 생산·공급기관
- 한국표준과학연구원
- 재고수량
- 0
- 판매가(VAT포함)
-
일시품절
- 형태/규격
- 10 mm x 10 mm x 0.6 mm 칩
- 서비스유형
- 재고형
- 표준물질 구분
- 인증표준물질
- 용도
- 인증값
- 박막 두께 : 4.38 nm
- 측정불확도
- 0.33 nm (신뢰수준 95 %, k = 2.26)
- 인증방법
- CCQM-P190